Анализатор поверхности металлов искровой оптико-эмиссионный спектрометр METAR-2010 / МЕТАР-2010 (UNIX Instruments)
    
        
              | 
            Анализатор аоверхности металла МЕТАР-2010 производства UNIX Instruments. 
             
            Анализатор поверхности металла METAR-2010 разработан для быстрого анализа металлов. Это первый в мире анализатор количественного содержания компонентов на большой площади. Его функции включают в себя элементный анализ сегрегации, количественный анализ и анализ распределения включений на поверхности металла, анализ пористости и анализ состава металла. По сравнению с традиционными технологиями, анализатор металлов МЕТАР-2010 имеет отличительные преимущества, такие как легкость приготовления образца, точный и быстрый анализ. | 
        
    
Анализатор поверхности металлов METAR-2010 применяется для анализа химического состава и структуры металлических образцов в исходном состоянии. Прибор может непосредственно усиливать спектральные сигналы в обширной области в металлическом материале, генерируемые без-предварительного зажигания, непрерывным сканированием искрового разряда, и проводить быстрый сбор данных с помощью искрового спектра. Данные об исходном состоянии химического состава и концентраций в различных положениях на поверхности образца и информация о текстуре поверхности может быть получена с целью количественного анализа состава и состояния образца.
Преимущества
Технология непрерывного возбуждения и синхронного сканирования и позиционирования 
Традиционные платформы возбуждения используются только для анализа фиксированной позиции на поверхности образца. Для того чтобы проанализировать составные распределения, дефекты и включения, необходимо перемещать образец между электродами.
Технология одноместного искрового разряда для высокоскоростного сбора данных
Технология одноместного искрового разряда высокоскоростного сбора данных, разработанная нашими специалистами используется для сбора синхронных  данных об интенсивности и позиции одного искрового разряда в режиме реального времени и в многоканальном режиме для количественного анализа и анализа распределения элементов и включений.
Анализ одиночного разряда "АОР"
Платформа сканирования используется для крепления образца до возбуждения и обеспечения непрерывного движения. Высокоскоростная система сбора данных накапливает и записывает интенсивность спектральной линии и положение каждого искрового разряда в реальном времени, данные сортируются по разным критериям анализа, распределения элементов (анализ сегрегации), анализа пористости и включения. Этот новый метод известен как анализа одиночного разряда, или сокращенно "АОР".
Характеристики
    
        
            Система непрерывного возбуждения 
            Высоко-стабильный источник искрового разряда | 
        
        
            | Частота | 
            500 Гц | 
        
        
            | Индуктивность | 
            120 Гн | 
        
        
            | Электрическая емкость | 
            5 Ф | 
        
        
            | Напряжение | 
            400 В | 
        
        
            | Оптическая система | 
        
        
            | Спектральный диапазон | 
            120 - 800 нм | 
        
        
            | Разрешение | 
            лучше чем 0,01 нм | 
        
        
            | Вакуумная оптическая система | 
            Система Пашена-Рунге, фокусное расстояние 750 мм 
             | 
        
        
            | Система сканирования | 
        
        
            | Консольного типа связана с осями XY | 
            
             
            
             
            
            
            Перемещение (ось ① X 300 мм, ось ② Y 300 мм, ось ③ Z 150 мм) 
             
             | 
        
        
            | Привод | 
            Цифровой, AC, серво привод | 
        
        
            | Определение позиции | 
            Инкрементный датчик положения | 
        
        
            | Воспроизводимость позиции | 
            0,1 мм | 
        
        
            | Передача | 
            Шарико-винтовая | 
        
    
Анализатор поверхности металлов МЕТАР-2010, METAR-2010, анализатор поверхности металов, МЕТАР-2010, анализатор металлов и сплавов, анализатор металлов, UNIX Instruments, лабораторное оборудование, лабораторное оборудование и приборы, производство лабораторного оборудования, лабораторная техника, оборудование для лабораторий, аналитическое оборудование, аналитические приборы, лабораторные приборы, анализатор, промышленное оборудование, Анализатор поверхности металлов МЕТАР-2010, анализатор поверхности металов, МЕТАР-2010, METAR-2010, анализатор металлов и сплавов, анализатор металлов, UNIX Instruments, лабораторное оборудование, лабораторное оборудование и приборы, производство лабораторного оборудования, лабораторная техника, оборудование для лабораторий, аналитическое оборудование, аналитические приборы, лабораторные приборы, анализатор, промышленное оборудование, Анализатор поверхности металлов МЕТАР-2010, METAR-2010, анализатор поверхности металов, МЕТАР-2010, анализатор металлов и сплавов, анализатор металлов, UNIX Instruments, лабораторное оборудование, лабораторное оборудование и приборы, производство лабораторного оборудования, лабораторная техника, оборудование для лабораторий, аналитическое оборудование, аналитические приборы, лабораторные приборы, анализатор, промышленное оборудование